一、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)三箱供電條件：

AC380V三相四線 +保護(hù)接地

電壓允許波動(dòng)范圍：±10%V

頻率允許波動(dòng)范圍：（50±0.5）ＨZ

TN-S方式供電或TT方式供電

保護(hù)地線接地電阻小于4Ω

二、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)三箱測(cè)試條件：

• 三相沖擊模式：

高溫60℃～ 150℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

常溫沖擊5min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

• 兩箱沖擊模式

高溫60℃～ 150℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

三、高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足試驗(yàn)方法：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件